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SuperViewW3d表面光學(xué)輪廓檢測儀以白光干涉技術(shù)為原理，獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量。它集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點，適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類型，讓3D測量變得簡單。

SuperViewW1三維3D光學(xué)輪廓儀測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣，是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

VJ系列3d線激光輪廓測量儀搭配高精度線激光測頭，結(jié)合高精度圖像分析算法，無接觸掃描3D輪廓成像，實現(xiàn)尺寸的快速精確測量。CNC模式下，只需按下啟動鍵，儀器即可根據(jù)工件的形狀自動定位測量對象、匹配模板、測量評價、報表生成，真正實現(xiàn)一鍵式快速精準測量。

SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

中圖儀器W系列3d表面輪廓光學(xué)檢測儀能對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SuperViewW1非接觸式光學(xué)輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細表面輪廓測量儀器，主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

CHOTEST中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓度測量儀是以白光干涉技術(shù)為原理的白光干涉儀，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測，具有測量精度高、操作便捷、功能全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。