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SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細表面輪廓測量儀器，主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SJ5800接觸式輪廓粗糙度儀具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數(shù)測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評價功能，能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測量需求。

SJ5800精密粗糙度輪廓儀具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數(shù)測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評價功能。

SJ5700DUAL輪廓掃描儀可全量程大范圍連續(xù)掃描，擁有長達數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力，適合大范圍陡坡表面測量，大工件無需翻轉(zhuǎn)、傾斜調(diào)整，就可實現(xiàn)測量。儀器采用高精度導(dǎo)軌系統(tǒng)，導(dǎo)軌直線度高，導(dǎo)軌材料耐磨性好、保證系統(tǒng)穩(wěn)定可靠工作；高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性：分辨力0.001μm，滿足被測件測量精度要求。

CHOTEST中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓度測量儀是以白光干涉技術(shù)為原理的白光干涉儀，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測，具有測量精度高、操作便捷、功能全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。

中圖SJ5800粗糙度輪廓測量儀集成表面粗糙度和輪廓測量。具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，因此非常適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數(shù)測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評價功能，能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測量需求。